发布时间:2017-12-07 01:59:20
在半导体、超精密加工及微纳材料等领域,器件的表面质量直接关系着后期的产品质量和研究成果,中图仪器SuperView W1系列光学3D表面轮廓仪,是一款分辨率达到亚纳米级别的光学检测仪器,助您轻松实现2D/3D表面粗糙度、轮廓测量,超高精度,“纳”么简单。
采用白光干涉技术,结合具有优异抗噪性能的3D重建算法,真实还原样品的每一个细节,随意翻转缩放,助您轻松观察、测量样品的任意特征。
粗糙度、平面度、孔洞分析、顶点分析等3D测量功能全部囊括,距离、角度、直径测量等2D轮廓分析功能完全覆盖,更有依据ISO|A***E|EUR|GBT四大国内外标准的300余种特征参数,让您对样品的了解细致入微。
直观的操作界面,让您对操作流程一目了然,自动聚焦,助您一键实现测量过程;可视化的工作流程树,一键***的图库管理功能,所见即所得的同步分析功能,更有一键分析功能,批量测量不用愁。
采用了高精度扫描模块和独特的内部抗振设计,可实现***高0.05%的测量精度重复性和0.002nm的粗糙度RMS重复性,***诠释始终如一的测量品质。
W1系列光学3D表面轮廓仪提供1100单镜头手动版和1200多镜头自动版两种机型,另可针对不同的客户需求,在两种型号间选取不同配置进行组合,让仪器***切合客户需求,贴心更省力。
可测2D/3D轮廓、粗糙度,300余种特征参数……光学3D表面轮廓仪在半导体、超精密加工及微纳材料等领域可得到广泛应用,超光滑硅晶片表面粗糙度、超精密非球面弧面线粗糙度、金字塔型磁头夹角、微透镜阵列曲率半径……一个个来自客户的实际应用案例,让我们对这款产品充满信心,全程跟进的技术支持,为您提供***贴心的服务。
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